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Diese Prüfkammer eignet sich für die Lebensdauertestforschung elektrischer und elektronischer Komponenten, Leiterplattenbaugruppen usw. Durch das Anlegen einzelner oder umfassender Spannungen auf diese Proben, einschlie?lich Hochtemperaturschritt, Niedertemperaturschritt, schneller Temperatur?nderungszyklus, nicht-Gau?sche Breitband-Zufallsschwingung mit sechs Freiheitsgraden usw., wird die Spannung allm?hlich erh?ht, um die Spannungsgrenze zu bestimmen, die sie standhalten k?nnen. Dies tr?gt dazu bei, Produktdefekte schnell zu identifizieren und in den Phasen der Forschung und Entwicklung, des Designs, der Versuchsproduktion und der Massenproduktion zu verbessern, die Forschungs- und Entwicklungszeit zu verkürzen und das Ziel einer schnellen Markteinführung unter der Pr?misse der Gew?hrleistung der Produktqualit?t zu erreichen.