Esta cámara de prueba es adecuada para la investigación de prueba de vida de componentes eléctricos y electrónicos, conjuntos de placas de circuito impreso, etc. Al aplicar un esfuerzo único o integral, incluido un paso de alta temperatura, un paso de baja temperatura, un ciclo de cambio rápido de temperatura y una vibración aleatoria de banda ancha no gaussiana de seis grados de libertad, a estas piezas de prueba, el estrés se incrementa gradualmente para determinar el límite de estrés que puede soportar. Esto ayuda a identificar rápidamente los defectos del producto y mejorarlos durante las etapas de I + D, dise?o, producción de prueba y producción en masa, acortando el tiempo de I + D y logrando el objetivo de lanzamiento rápido al mismo tiempo que garantiza la calidad del producto.
Nombre del producto |
Cámara de prueba de vida alta acelerada (cámara HALT) |
Modelo de producto |
HALT101-GT900 |
HALT102-GT1200 |
Volumen del estudio |
1.1/1.5 m3 |
1,8/2,3 m3 |
Tama?o del estudio
(milímetros) |
W |
1070 |
1370 |
H |
970/1270 |
970/1270 |
D |
1070 |
1370 |
Dimensiones exteriores
(milímetros) |
W |
1780 |
2100 |
H |
3064 |
3064 |
D |
1400 |
1700 |
Rango de Temperatura |
-100~+200℃ |
Fluctuaciones de temperatura |
≤±1 ℃ (tiempo de estabilización en 2 minutos) |
Precisión del control de temperatura |
±1℃ |
Tasa de calentamiento/enfriamiento |
≥70℃/min |
Vibración |
Tres ejes y seis grados de libertad |
Plataforma de vibración (mm) |
910 × 910 (ancho × profundidad) |
1213 × 1213 (ancho × profundidad) |
Valor de aceleración |
1~75Grms, ajustable |
Frecuencia de vibración |
2 ~ 10000Hz; 5 ~ 4000Hz (90% zona de energía) |